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低壓ZnO壓敏電阻的特性與晶界的結構狀態有密切關系,關于壓敏電阻的顯微結構,人們也以Bi系ZnO壓敏電阻為基礎,建立了不同的模型進行研究,如微電阻模型,即將壓敏電阻等效為包含在多晶材料中的分立的晶界,還有運用薄膜技術制造的單結等來模擬ZnO
壓敏陶瓷的顯微結構材料中主要的相是半導化的ZnO晶粒,許多ZnO晶粒直接接觸,晶粒間沒有其它相,形成了雙ZnO-ZnO晶界(同質結)。由于Bi等大尺寸離子在晶界偏析,改變了晶界的結構,電流通過這些晶界,這些晶界稱為電活性晶界,電活性晶界是決定壓敏電阻性質的關鍵。在三個晶粒的交界處,有時在兩個晶粒(可能有特殊取向)之間,存在粒間相,粒間相在導電過程中大多是電學非活性的。該相主要包括各種添加物形成的化合物。陶瓷材料中的所有成分都可以溶解在粒間相中,在燒結過程中,晶粒交界處可能形成尖晶石晶體,但是它們不參與導電過程。氧化物的改性添加可以改變晶粒電導或晶界的結構及化學狀態,尤其是偏析于晶
界的雜質對晶界活性有很大的影響,因而適當的摻雜選擇對形成和改善非線性起著很重要的作用,而且晶界勢壘是ZnO壓敏陶瓷燒結時在高溫冷卻過程中形成的,燒結工藝直接影響雜質缺陷在晶界中的分布,從而影響晶界化學結構。另外,低壓ZnO壓敏電阻的晶粒尺寸要足夠大,單位厚度的晶界數少,因此低壓壓敏電阻對顯微結構的波動尤其敏感,工藝對低壓壓敏電阻壓敏特性的作用也不可忽視。
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ZnO 壓敏電阻的微觀結構分析發現,形成的四個主要 成分是?。冢睿?、尖晶石、焦綠石和一些富?。拢椤∠啵▓D?。常?。圖 中也指明了組分存在的部位,還存在一些用現有技術尚不 易檢測出來的其它次要相。 ZnO 壓敏電阻的典型晶粒尺寸在15和20μm 之間, 并且也總是伴有雙晶。SiO2的存在抑制晶粒生長,而?。裕椋希病?和?。拢幔稀t加速晶粒長大。尖晶石和焦綠石相對晶粒長大有 抑制作用。焦綠石相在低溫時起作用,而尖晶石相在高溫 時有利。當用鹽酸浸蝕晶粒時,中間相呈現出在電性上絕 緣的三維網絡。 燒結形成的 ZnO 晶粒是?。冢睿稀好綦娮璧幕緲嫵蓡渭儭。冢睿稀∈蔷哂芯€性?。桑铡√匦缘姆腔瘜W計量?。睢⌒桶雽?體。進入 ZnO 中的各種添加物使其具有非線性。這些氧 化物中主要是 Bi 2O3。這些氧化物的引入,在晶粒和晶粒 邊界處形成原子缺陷,施主或類施主缺陷支配著耗盡層, 而受主和類受主缺陷支配著晶粒邊界狀態。相關的缺陷類 型是鋅空位(V Zn'、V Zn'')、氧空位(V o 、V o )、填隙鋅
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